德国布伦瑞克2024年1月25日 /美通社/ -- 作为晶圆级测试解决方案的旺矽先驱，旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 的科技先进半导体测试 (AST) 部门今天宣布在射频校准技术方面取得一项重大成果。该部门与德国联邦物理技术研究院 (PTB) 合作，先进现高校准在表征高达110 GHz的半导商用校正片方面成功实现了完全可追溯性，树立了新的体测突破行业标杆。

Gia Ngoc Phung 博士 (PTB，追溯德国) 将 TCS-050-100-W 校正片证书交给 MPI

这项在先进半导体测试部门射频技术总监Andrej Rumiantsev博士带领下取得的旺矽成果，代表着MPI整个射频产品线的科技重大飞跃。完全可追溯的先进现高校准特征为更准确、可靠和被普遍接受的半导高频测量铺路，这对于5G等尖端技术至关重要。体测突破

Rumiantsev博士表示："在如此高的试部射频频率下实现射频校准的完全可追溯性证明了我们对精度和质量的重视。这项突破是门实我们与PTB长期合作的成果。这不仅是旺矽先进半导体测试部门的进步，也是整个微波量测学界、半导体和电信行业的重大进步。"

德国PTB晶圆级散射参数部门负责人Uwe Arz博士表示："制定晶圆级射频系统校准的国家标准是PTB多年来一直努力实现的目标。我们很自豪地宣布将溯源链转让给MPI的商用校正片，这在业内实属首次。"

旺矽先进半导体测试部门的最新成果突显了其是半导体测试行业的领导者，有望在高频测试领域开辟新路径，并巩固其市场领先地位。

如需了解更多信息，请参阅：

• 全球首批晶圆级测量校准证书 - PTB.de
• 商用校正片上高达110 GHz的可追溯集总元件校准 | IEEE Conference Publication | IEEE Xplore